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分析是什么导致纳米激光粒度仪发生数据漂移现象

更新时间:2020-05-26      点击次数:1019
   纳米激光粒度仪是记录粒度的理想工具,通过利用新的粒度损失分析器功能,*的自动趋势分析能让您快速发现不同时间出现的变化。
  作为粉体检测设备,纳米激光粒度仪常常会面对多尘环境,测试窗口镜片则是会直接接触粉体样品的光学器件。聚焦透镜或者准直透镜等光学镜片受到使用环境中的浮尘污染或者发生霉菌污染,会使纯净的测量光束产生杂散光。这些杂散光会混入样品的散射光中干扰测试;测量窗口镜片上的污染物则会直接产生较强的散射光。因此,光学镜片污染是激光粒度仪测试结果漂移的首要元凶。应对办法主要是尽量让仪器处于干燥无尘的工作环境。经常按照操作规程清洗镜片,保证光学镜片的清洁。
  光电探测器及其放大电路参数漂移:这类问题应该属于仪器制造质量水平问题,,一般来说任何电子电路和光电探测器都有工况漂移问题,差别只是漂移量不同。这类问题通常仪器用户自己是无法解决的,需要仪器制造商对仪器进行专门的电路工况系数校准。某些高水平的仪器,能够自行校准自身电路工况漂移。
  测量参数、测量条件变动:分析模型、样品测量参数、测试环境(例如湿度、测试介质温度等)都有可能影响测试数据。我们首先要保证测试的分析模型、样品测量参数(特别是样品折射率)选择正确。测试环境的影响,视不同样品和仪器工作环境不同,影响也差别很大,很难简单举例说明。需要具体情况具体分析。
  激光光路偏移:激光器是会发热的器件,工作周期内,它们会周而复始的发热-降温-发热。任何物体都会有热胀冷缩现象,几何尺寸会随温度变化而变化。而激光粒度仪光路装配精度要求非常高,随着仪器使用周期延长,光路几乎不可避免的会出现偏移现象。光路偏移,会导致测量光束光能衰减、探测器排布角度发生漂移,从而导致测量数据漂移。应对这个问题主要靠仪器制造商从仪器设计上尽量减少出现光路偏移的可能性,同时定期校准光路也是非常重要的办法。
  进样系统的循环、分散效能波动这个环节导致的数据漂移比较隐蔽,所以容易被忽视。样品循环系统使用的介质特性、介质流速(干法仪器而言则是气压和气流量)、超声分散设备的工况、水泵转速这几个要点会明显影响测试数据,需要细心关注。
  纳米激光粒度仪使用注意的细节:
  1、测量单元预热;在*开机,或关机超过半小时再重复开机时需要预热。
  2、系统对中;系统对中就是把激光束的中心与环形光电探测器的中心调成一致。
  3、系统参数设置;在主菜单下,用鼠标左键单击“文件”,屏幕上弹出“文件”子菜单。再用鼠标左键单击“重新开始”,屏幕继续弹出“系统参数设置”栏。在该栏上输入:超声时间、测试人等项内容。
  4、样品准备;样品准备是指从待测的粉体材料中有代表性地取出适当的数据作测量样品,选取适当的悬浮液和分散剂,将样品与悬浮液混合,并让样品颗粒在悬浮液中充分分散,而又不与悬浮液和分散剂发生化学反应的过程。